半导体及材料测试(Semiconductor and Material Test)
主要特性 ATE/ 芯片自动化测试系统测试软件平台
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ATE/ 芯片自动化测试系统测试软件平台

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· 十年+半导体晶圆芯片参数自动化测试系统开发经验,复合型技术团队集光学、电学、机械、仪器、测试软件开发能力,快速提供匹配方案,专业化服务。
· 测试软件平台:ATE2000芯片参数自动化测试软件、QuickTEST材料参数测试软件,支持各厂商仪器、探针台,结构化设计、模块化开发、快速定制。
· 国产全系探针台手动探针台、自动探针台、高低温探针台、光电探针台、可定制专属应用,性能先进、质量可靠、售后无忧。


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芯片自动化测试系统

信息摘要:

提供从光电器件、射频微波器件、功率器件、集成电路的芯片自动化测试系统,包括ATE自动测试软件、自动探针台、测试仪器等

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